X射線熒光光譜儀有兩種基本類(lèi)型:能量色散型X熒光光譜儀(EDXRF）和波長(zhǎng)色散型X熒光光譜儀(WDXRF)。
首先來(lái)說(shuō)能量和波長(zhǎng)是從不同的角度來(lái)觀察描述X射線所采用的兩個(gè)物理量。
能量色散型X熒光光譜儀（EDXRF），用X射線管產(chǎn)生原級(jí)X射線照射到樣品上，所產(chǎn)生的特征X射線（熒光）這節(jié)進(jìn)入SI(LI)探測(cè)器，便可以據(jù)此進(jìn)行定性分析和定量分析。
波長(zhǎng)色散型X熒光光譜儀（WDXRF）是用晶體分光而后由探測(cè)器接受經(jīng)過(guò)衍射的特征X射線信號(hào)。如果分光晶體和控測(cè)器做同步運(yùn)動(dòng)，不斷地改變衍射角，便可獲得樣品內(nèi)各種元素所產(chǎn)生的特征X射線的波長(zhǎng)及各個(gè)波長(zhǎng)X射線的強(qiáng)度，可以據(jù)此進(jìn)行特定分析和定量分析。其可以對(duì)復(fù)雜體進(jìn)行多組同時(shí)鑒定，多用于地址勘探部門(mén)。
? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? 臺(tái)式X熒光光譜儀
能量色散型X熒光光譜儀 是將X射線激發(fā)被測(cè)所有元素的熒光簡(jiǎn)單過(guò)濾后，全部進(jìn)入到檢測(cè)器中，利用儀器和軟件來(lái)分出其中的光譜。如測(cè)的為元素周期表中相鄰的兩個(gè)元素，會(huì)因光譜重疊而產(chǎn)生測(cè)量誤差。能量色散型儀器最大的優(yōu)點(diǎn)是不破壞被測(cè)的材料或產(chǎn)品，也不需要專(zhuān)業(yè)人員操作，缺點(diǎn)是對(duì)鉻和溴是總量測(cè)定（一般不影響使用，因?yàn)楹芏嗲闆r可以判定，如測(cè)鉻總量超標(biāo)，常可知是不是六價(jià)鉻超標(biāo)，特別是溴，如被作為阻燃劑加入，不管是那種溴，總量超標(biāo)就不合格）。
波長(zhǎng)色散X熒光光譜儀的波長(zhǎng)法是因其激發(fā)出的熒光足夠強(qiáng)，進(jìn)到儀器中用來(lái)分析的光譜是單一元素（“過(guò)濾”了不需測(cè)的元素），不含其它元素的光譜，所以測(cè)量數(shù)據(jù)很準(zhǔn)確。這種儀器的靈敏度比能量色散型高一個(gè)數(shù)量級(jí)，也就是說(shuō)，所測(cè)的數(shù)據(jù)并不存在“灰色地域”，不存在測(cè)定后還需拿到檢測(cè)機(jī)構(gòu)復(fù)檢。其缺點(diǎn)是，波長(zhǎng)法需將被測(cè)材料粉碎壓制成樣本后測(cè)才準(zhǔn)確。所以，用在材料廠最適合。