臺式X熒光光譜儀是實驗室常用的儀器，在工作原理中，熒光強度的變化會直接導(dǎo)致樣品的測試結(jié)果，因為它本身就是利用X熒光強度的大小來判斷元素含量。另外，影響X熒光光譜儀的測試結(jié)果還有其他的誤差來源嗎？
首先我們要講的是一個常見的關(guān)于影響臺式X熒光光譜儀熒光強度的因素，這個是來源于樣品本身。它就是樣品的顆粒大小。
純物質(zhì)的熒光強度隨顆粒的減小而zeng大，在多元素體系中，已經(jīng)證明一些元素的強度與吸收和增qiang效應(yīng)有關(guān)，這些效應(yīng)可以引起某些元素的強度增加和另一些元素的強度減小。這些都是會直接影響到zui后的測量結(jié)果。顆粒的大小和強度的變化可以總結(jié)成以下：
強度與研磨時間的關(guān)系：
①粒度的減小，引起鐵、硫、鉀的強度減小，而使鈣、硅的強度增加。
②隨著粒度減小至某一點，強度趨于穩(wěn)定。
③較低原子序數(shù)的元素的強度隨粒度的減小有較大的變化。
臺式X熒光光譜儀測試位
另外，影響X熒光分析的其他誤差來源。
1.采樣誤差：非均質(zhì)材料、樣品的代表性。
2.樣品的制備：制樣技術(shù)的穩(wěn)定性、 產(chǎn)生均勻樣品的技術(shù)。
3.不適當(dāng)?shù)臉?biāo)樣：待測樣品是否在標(biāo)樣的組成范圍內(nèi)、標(biāo)樣元素測定值的準(zhǔn)確度、標(biāo)樣與樣品的穩(wěn)定性。
4.儀器誤差：計數(shù)的統(tǒng)計誤差、樣品的位置、靈敏度和漂移、 重現(xiàn)性。
5.不適當(dāng)?shù)亩繑?shù)學(xué)模型：不正確的算法、元素間的干擾效應(yīng)未經(jīng)校正顆粒效應(yīng)。?
以上就是這次要說的內(nèi)容，希望對大家有幫助。創(chuàng)想儀器GLMY，為您帶來zui新的資訊。