? ? ? ??X熒光光譜儀已廣泛應用于材料、冶金、地質(zhì)、生物醫(yī)學、環(huán)境監(jiān)測、天體物理、文物考古、刑事偵察、工業(yè)生產(chǎn)等諸多領域，是一種快速、無損、多元素同時測定的分析技術，可為相關生產(chǎn)企業(yè)提供一種可行的、低成本的、及時的檢測、篩選和控制有害元素含量的有效途徑。本文就x熒光光譜儀的工作原理及其應用做簡單介紹。?
? ? ? ? X熒光光譜儀根據(jù)各元素的特征X射線的強度，也可以獲得各元素的含量信息。
? ? 近年來，X熒光光譜分析在各行業(yè)應用范圍不斷拓展，已成為一種廣泛應用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個領域，特別是在RoHS檢測領域應用得*多也*廣泛。
? ? 大多數(shù)分析元素均可用其進行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測量范圍寬、干擾小的特點。?
? ? ? ?優(yōu)點:
? ? ? ? ?1、分析速度高·測定用時與測定精密度有關,但一般都很短,2-5分鐘就可以測克樣品中的全部待測元素。
? ? ? ? ?2
、? 雙射線泰光光譜跟樣品的化學結合狀志無關,而且跟固體 粉末.液體反晶質(zhì),非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀志也基本上沒有關系。(氣體密封在容器內(nèi)也可分析)但是在高分游率的精密測定中卻可著到有波長變化等現(xiàn)象·特別是在超軟刈對線范圍內(nèi),這種效應吏為顯著.波長變化用于化學位的測定
? ? ? ? ?3
、? 非破壞分析。在測定中不會引起化學伏態(tài)的改變,也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反真多次測量,結果重現(xiàn)性好。
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、? X射線熒光分析是一種物理分析方法,所以對在化學性質(zhì)上屬同一族的元素也能進行分析。
? ? ? ? ?5
、? 分析精密度高。
? ? ? ? ?6
、? 制樣簡單,固體,粉末,液體樣品等都可以進行分析。
? ? ? ?缺點:
? ? ? ? 1
、? 難于作絕對分析,故定量分析需要標樣。
? ? ? ? 2、對輕元素的靈敏度要低一些。
? ? ? ? 3、容易受相互元素干擾和疊加峰影響。
? ? ? ? X熒光光譜儀有兩種基本類型:波長色散型(WD-XRF)和能量色散型(ED-XRF)
