在使用X熒光光譜儀時(shí)應(yīng)該注意什么呢？當(dāng)X熒光光譜儀在使用過程中出現(xiàn)問題時(shí)我們應(yīng)該怎么解決呢？以下我們進(jìn)行簡單的答疑。
1、做進(jìn)料檢驗(yàn)，比如含量99.5的Fe2O3等，我們的機(jī)器沒有衰減器，分析鐵時(shí)強(qiáng)度高于5000KCPS，遠(yuǎn)超過了SC規(guī)定的2000KCPS，覺得我該怎么做好些？
（1）樣品制備時(shí)采用的稀釋比例加大
（2）用FeKβ線，強(qiáng)度可降低一倍
（3）我也遇到了這個問題，我們班原來的做法是降低電流電壓，對你可能不太適用，因?yàn)槟愕碾s質(zhì)元素如果還要測量的話，可能比較困難，不過可以看看
（4）壓樣法，可以加入淀粉然后再壓。
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2、熔融玻璃扣片時(shí)內(nèi)有氣泡的原因，如何避免？
可能的原因：熔融溫度不夠或溫度過高；稀釋比例太小，樣品太多；搖晃幅度不夠；坩堝的材料與“玻璃”浸潤。
3、X熒光光譜儀基本校正方法？
用標(biāo)樣來校正。
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4、用XRF測磁芯材料中的鉛，要求是100PPM以下，是否可以測量？
100PPM以下的鉛含量完全可以測，但是不能太小，比如幾個PPM就比較難測了，想對其有個準(zhǔn)確的定量必須買標(biāo)樣，標(biāo)樣里面肯定有鉛。
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5、最近單位的X熒光光譜儀經(jīng)常出現(xiàn)紅色的警報(bào)，內(nèi)容： tank temperature too high 或者 tank temperature too low。儀器狀態(tài)跟蹤顯示溫度非常不穩(wěn)定，不能穩(wěn)定在29~31攝氏度這一穩(wěn)定范圍，是不是水冷系統(tǒng)出現(xiàn)了問題，還是環(huán)境達(dá)不到規(guī)定的要求？
（1）應(yīng)該是跟水冷沒有關(guān)系，XRF的水冷只用來冷卻X tube個高壓箱的。
（2）水冷應(yīng)該有自己的警報(bào)系統(tǒng)。應(yīng)該是分析室的溫度，會收到環(huán)境溫度的影響。
（3）可能的原因有兩個：電熱系統(tǒng)損壞；周圍環(huán)境變化太大使電熱系統(tǒng)無能為力。
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6、X熒光光譜儀器，檢測口放一銅片的作用？
（1）有的手持式的在頭部裝有一個校正的樣品，同時(shí)在不用的時(shí)候也可以保護(hù)X射線發(fā)射源。
（2）銅塊作用一是能量校正，二是在不測其他樣品時(shí)擋住窗口起保護(hù)作用。
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7、進(jìn)行合金分析的時(shí)候，比如測定硅錳中的Si時(shí)，用什么進(jìn)行校正要好些？
（1）用喊Si量接近待測何金鐘Si含量的合金標(biāo)樣校正。
（2）基體校正這個說法不正確。如果說基體校正的話，你所做的試樣中錳和鐵能對其構(gòu)成基體上的影響。
實(shí)際上，你可能是由于線性不好，所以覺得應(yīng)該做“基體校正”。
原因是：可能是定值還得在準(zhǔn)確一些；制樣上的偏差比較大。
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8、為什么X熒光光譜儀測定壓片樣中的Sb含量時(shí)樣片厚度有影響？
（1）原子序數(shù)較低的元素（或基體）對能量較高的譜線吸收系數(shù)較低，因此無限厚度也就大一點(diǎn)
（2）Sb的K線能量較高，能穿透更厚的樣品（相對本樣品中的其他元素的特征射線），所以飽和厚度也就比其他元素厚。
